X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）是材料領(lǐng)域研究局域原子與電子結(jié)構(gòu)的核心表征工具，憑借獨(dú)特的技術(shù)特性，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米材料等前沿研究場(chǎng)景。傳統(tǒng)XAFS測(cè)試長(zhǎng)期依賴(lài)同步輻射大科學(xué)裝置，機(jī)時(shí)緊張、測(cè)試門(mén)檻高，硬X射線(xiàn)臺(tái)式吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（RapidXAFS）的出現(xiàn)，解決了這一應(yīng)用痛點(diǎn)。

　　這款臺(tái)式譜儀不依賴(lài)樣品的長(zhǎng)程有序結(jié)構(gòu)，可直接用于非晶態(tài)、無(wú)定形材料的結(jié)構(gòu)研究，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)XRD表征手段在非晶、短程有序體系中的結(jié)構(gòu)分析局限。

　　它具備較強(qiáng)的元素特異性，測(cè)試過(guò)程不受其他共存元素的信號(hào)干擾，可對(duì)同一樣品中的不同目標(biāo)元素分別開(kāi)展獨(dú)立分析，精準(zhǔn)定位每一種元素的局域化學(xué)環(huán)境。

　　測(cè)試全程對(duì)樣品無(wú)破壞性，可直接在常規(guī)大氣環(huán)境下完成操作，無(wú)需嚴(yán)苛的真空條件，還可搭配原位附件開(kāi)展工況下的動(dòng)態(tài)測(cè)試，實(shí)時(shí)追蹤反應(yīng)過(guò)程中的結(jié)構(gòu)演變。

　　它對(duì)樣品狀態(tài)幾乎無(wú)特殊限制，可適配固體（晶體、粉末）、液體（溶液、熔融態(tài)）、氣體等多種形態(tài)的樣品，大幅拓寬了技術(shù)的適用場(chǎng)景。

　　在數(shù)據(jù)精度層面，它可準(zhǔn)確輸出配位原子種類(lèi)、配位數(shù)、原子間距等核心結(jié)構(gòu)參數(shù)，其中原子間距的測(cè)量精確度可達(dá)0.01Å，滿(mǎn)足前沿科研對(duì)精細(xì)結(jié)構(gòu)解析的精度要求。

　　如今臺(tái)式XAFS技術(shù)的成熟，讓原本僅能依托大科學(xué)裝置的表征能力走進(jìn)普通實(shí)驗(yàn)室，大幅降低了材料結(jié)構(gòu)研究的門(mén)檻，為多個(gè)工業(yè)與科研領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新提供高效支撐。